均英精密於 CFCF 2026 接受光纖在線 CFOL 採訪，介紹 GTK-OSI1 被動光學元件檢測機，以及如何透過自動化技術提升檢測效率與應用彈性。
GTK-OSI1 適用於 FAU、Fiber Array、V-Groove、MT 與 MMC 等被動光學元件，整合自動對焦、檢測路徑運算與批量檢測功能，協助製造端建立更快速且一致的檢測流程。
智動點功能可快速設定自動對焦與檢測的起始位置，減少檢測前所需的人工定位作業，實現自動化對焦與檢測。
系統依元件軌跡規劃最佳檢測路徑，減少量測點間不必要的運算，使每個溝槽或孔位的檢測時間低於 1 秒。
GTK-OSI1 支援 MT 與 MMC Ferrule 批量自動檢測，單次最多可檢測 20 顆，減少重複上下料與人工定位，同時提升檢測效率與一致性。
使用者可依產品排列方式，自訂檢測通道數與行數，對應不同元件結構與規格，讓設備具備因應未來產品與檢測需求的擴充彈性。
