被動光學元件檢測機
GTK-OSI1

被動光學元件檢測機

精密光學元件檢測

超精密光學被動元件自動量測,實現 3σ ≤ 0.1 μm 的重複精度,確保光學對準驗證的穩定與可靠。

  • 高精度 提供穩定的量測,3σ ≤ 0.1 µm 重複經度
  • 高效產能 單次最高可批量檢測20個光學元件
  • 高速檢測 單一零件檢測時間 1–2 秒,大幅提升檢測速率
取得報價

產品規格

尺寸 (mm): 1940 (L) x 851 (W) x 1732 (H)

重量: 440 Kg

重複測量精度: 3σ≦0.1μm

適用元件: FAU,  Fiber Array, V-Groove, MT/MMC

CCD: 5472  × 3648 Pixels

PC 系統: Windows  11

量測時間: 1 –  2 秒/1 core, 1 groove

自動化XYZ三軸位移: X-軸: 100mm, Y-軸 : 4mm,  Z-軸: 4mm

產品諮詢

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